首頁
1
專用型客製機型
2
AOP Thickness 同時量測上下形貌的高精度儀器3
Menu 搜尋
Menu

品牌代理

AOP Thickness 同時量測上下形貌的高精度儀器

配備最先進雙感測器的計量技術,精確對準後,可同時進行雙面幾何測量,自動化計算各種材料上下層或整體厚度、TMT、TTV。

規格與說明

觀看 AOP Thickness 產品介紹影片

AOP Thickness平台是設計為了同時量測物件上下形貌的解決方案,配備上下雙高速線或點感測器和高精準度XY平台,橫向測量範圍高達 400 mm x 400 mm,厚/高度測量範圍可達到 2 mm至 145 mm,垂直解析度為 0.2 µm至 5 µm。專屬操控軟體提供自動化量測和校正功能,以及客製化分析軟體提供自動化計算各種材料上下層或整體厚度、TMT、TTV等參數。




Keyence  MicroSense  FRT  Sensofar  Cyber  PROV  Nanosystem  wyko  Takaoka  理德  Read  Zeta  KLA  nanofocus  Bruker  表面3D  蔡司  zeiss  台灣三豐  Mitutoyo  um等級 大面積檢測  3D量測儀  3D輪廓儀  Solarius  3D量測設備  3D光學  3D光學量測  Keyence  非接觸式  非接觸式量測  光學量測  sub-um  半導體  後段量測  後段檢測

本網站利用 Cookie 來執行網站服務並改善您與我們的互動。若您同意我們放置相關 Cookie 資料,繼續瀏覽讓本網站繼續為您服務。